SPA6100半导体参数分析仪

详细说明

■ 30μV-1200V，1pA-30A 宽量程测试能力

■ 测量精度高，全量程下达0.1%

■ 内置标准器件测试程序，直接调用测试简便

■ 自动实时参数提取、 数据绘图、分析函数

■ 在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线

■ 提供灵活的夹具定制方案，兼容性强

■ 免费提供上位机软件及SCPI指令集

应用场景及测试参数

1. 纳米材料：电阻率、载流子迁移率、载流子浓度、霍尔电压

2. 柔性材料：拉伸/扭转/弯折、V-t、I-t、R-t、电阻率、灵敏度

3. IC芯片：O/S、IIH/IIL、VOH/VOL、I/O Pin IV曲线

4. 分立器件：BVDSS/IGSS/IDSS/Vgs(th)/Rdson、Ciss/Coss/Crss、输出/转移/CV曲线等

5. 光电探测器：暗电流ID、结电容Ct、反向击穿电压VBR、响应度R

6. 钙钛矿电池：VOC、ISC、Pmax、Vmax、Imax、FF、η、Rs、Rsh

7. LD/LED/OLED：Iop、Popt、VF、Ith、VR、IR、LIV/IVL曲线

8. 传感器/忆阻器：V-t、I-t、R-t、直流/脉冲/交流IV测试